xtu是一款设计结构紧凑，模块精密化程度极高的镀层测厚仪，采用了下照式c型腔体设计，不但可以测量各种微小样品，即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量，是一款测量涂镀层成分及厚度性价比高、适用性强的机型。
该系列仪器使用于平面、微小样品或者微凹槽曲面深度30mm以内的样品涂镀层检测。
被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
精工测厚仪 产品详情
仪器简介：
xtu-a是一款设计结构紧凑，模块精密化程度极高的镀层测厚仪，采用了下照式c型腔体设计，不但可以测量各种微小样品，即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量，是一款测量涂镀层成分及厚度性价比高、适用性强的机型。
该系列仪器使用于平面、微小样品或者微凹槽曲面深度30mm以内的样品涂镀层检测。
被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
技术参数：
1.元素分析范围：氯(cl)- 铀(u)
2.涂镀层分析范围：氯(cl)/锂(li)- 铀(u)
3.厚度低检出限：0.005μm
4.成分低检出限：1ppm
5.小测量直径0.2mm(小测量面积0.03mm²)
6.对焦距离：0-30mm
7.样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm
8.仪器尺寸：550mm*480mm*470mm
9.仪器重量：45kg
10.xy轴工作台移动范围：50mm*50mm
11.xy轴工作台大承重：5kg
多元迭代efp核心算法
专业的研发团队在alpha和fp法的基础上，计算样品中每个元素的一次荧光、二次荧光、靶材荧光、吸收增强效应、散射背景等多元优化迭代开发出efp核心算法，结合先进的光路转换技术、变焦结构设计及稳定的多道脉冲分析采集系统，只需要少量的标样来校正仪器因子，可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。
单涂镀层应用：如ni/fe、ag/cu等
多涂镀层应用：如au/ni/fe、ag/pb/zn等
合金镀层应用：如znni/fe、znal/ni/cu等
合金成分应用：如nip/fe，通过efp算法，在计算镍磷镀层厚度的同时，还可精准分析出镍磷含量比例。
重复镀层应用：不同层有相同元素，也可精准测量和分析。
如钕铁硼磁铁上的ni/cu/ni/fendb，d一层ni和第三层ni的厚度均可测量。
仪器优势：
1.一机多用，无损检测
2.小测量面积0.002mm²
3.可检测凹槽0-30mm的异形件
4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测